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必須了解掃描電鏡的基本知識(shí) 發(fā)布日期:2021-09-06 15:23:51    文章來(lái)源:萊雷科技

在材料領(lǐng)域,掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用。掃描電鏡廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面條件、損傷機(jī)理和材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究??梢灾苯友芯烤w缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程,觀察金屬材料中原子的聚集方式及其真實(shí)邊界,觀察不同條件下邊界的運(yùn)動(dòng)方式,檢查晶體表面加工引起的損傷和輻射損傷。

掃描電鏡大致可以分為兩部分:鏡體和電源電路系統(tǒng)。鏡體由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)采集顯示系統(tǒng)和真空抽氣系統(tǒng)組成。

掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室組成。其功能是獲得掃描電子束作為信號(hào)的激發(fā)源。為了獲得高信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率,掃描電鏡應(yīng)具有高亮度和盡可能小的束斑直徑。

檢測(cè)樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號(hào),然后通過(guò)視頻放大作為成像系統(tǒng)的調(diào)制信號(hào)。目前,掃描電鏡應(yīng)用廣泛,它由閃爍體、光導(dǎo)管和光電倍增器組成。

真空系統(tǒng)的功能是保證電子光學(xué)系統(tǒng)的正常工作,防止樣品污染。一般要求保持10-4~10-5托的真空度。

電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓、穩(wěn)流及相應(yīng)的安全保護(hù)電路組成。其功能是提供掃描電鏡各部分所需的電源。

在加速電壓的作用下,電子槍發(fā)射的電子束通過(guò)磁透鏡系統(tǒng)會(huì)聚,形成直徑為5nm的電子光學(xué)系統(tǒng)。電子束通過(guò)由兩到三個(gè)電磁透鏡組成的電子光學(xué)系統(tǒng)后,會(huì)聚成一束精細(xì)的電子束并聚焦在樣品表面。掃描線圈安裝在最終透鏡的上側(cè),在其作用下掃描樣品表面上的電子束。

由于高能電子束與樣品材料之間的相互作用,產(chǎn)生了各種信息:二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子。這些信號(hào)由相應(yīng)的接收器接收、放大并發(fā)送到顯像管的柵極以調(diào)制顯像管的亮度。因?yàn)橥ㄟ^(guò)掃描線圈的電流與顯像管的相應(yīng)亮度一一對(duì)應(yīng),也就是說(shuō),當(dāng)電子束擊中樣品上的某一點(diǎn)時(shí),顯像管的熒光屏上會(huì)出現(xiàn)一個(gè)亮點(diǎn)。

這樣,掃描電鏡采用逐點(diǎn)成像的方法,將樣品表面的不同特征按順序和比例轉(zhuǎn)換成視頻信號(hào),形成一幀圖像,以便在熒光屏上觀察樣品表面的各種特征圖像。

被入射電子束轟擊并離開(kāi)樣品表面的核外電子稱為二次電子。這是真空中的自由電子。二次電子一般在表面5~10nm的深度范圍內(nèi)發(fā)射。它對(duì)樣品的表面形態(tài)非常敏感。因此,它可以非常有效地顯示樣品的表面形貌。二次電子產(chǎn)率與原子序數(shù)之間沒(méi)有明顯的相關(guān)性,因此不能用于組分分析。

背散射電子是固體樣品中原子核反彈回來(lái)的入射電子的一部分。背散射電子來(lái)自樣品表面數(shù)百納米的深度范圍。由于其生產(chǎn)率隨著樣品原子序數(shù)的增加而增加,因此它不僅可用于形態(tài)分析,還可用于顯示原子序數(shù)對(duì)比度和定性成分分析。

背散射電子的信號(hào)強(qiáng)度遠(yuǎn)低于二次電子的信號(hào)強(qiáng)度,因此粗糙表面的原子序數(shù)對(duì)比度常常被形態(tài)對(duì)比度所掩蓋。

掃描電鏡通常配有分光計(jì)或能量分光計(jì)。光譜儀和能譜儀不能相互替代,只能相互補(bǔ)充。

光譜儀使用布拉格方程2dsinθ=λ,樣品激發(fā)的X射線經(jīng)過(guò)適當(dāng)?shù)木w分裂后將具有不同的衍射角。2θ譜儀是微組分分析的有力工具。光譜儀的波長(zhǎng)分辨率很高,但由于X射線利用率低,其應(yīng)用范圍受到限制。

能譜儀是一種利用不同能量的X射線量子進(jìn)行元素分析的方法。當(dāng)元素的X射線量子從主量子數(shù)N1的層躍遷到主量子數(shù)N2的層時(shí),存在一個(gè)比能ΔE=En1-En2。能譜儀分辨率高,分析速度快,但分辨率差,譜線經(jīng)常重疊,低含量元素的分析精度很差。

能量譜儀與光譜儀相比的優(yōu)缺點(diǎn):

(1) 該能譜儀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,沒(méi)有機(jī)械傳動(dòng)部分,穩(wěn)定性和重復(fù)性都很好。

(2) 能量分光計(jì)不需要聚焦,因此對(duì)樣品表面沒(méi)有特殊要求。

但是,能譜儀的分辨率低于能譜儀;能量譜儀的探頭必須保持低溫,因此必須不時(shí)用液氮冷卻。

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